|
公司基本資料信息
|
超聲波探傷儀
物理基礎 波及波分類 介質的一切質點,是以彈性力互相聯系的。
某質點在介質內振動,能激發起周圍質點的振動。
振動在彈性介質內的傳播過程,稱為波。波,有電磁波(電波和光波)和聲波(或稱機械波)。
聲波 聲波是一種能在氣體、液體、固體中傳播的彈性波。
它可分為分次聲波、可聞聲波、超聲波及特超聲波。
人耳所能聽聞的聲波在20-20000赫之間。頻率超過20000赫,人耳所不能聽聞的聲波,稱超聲波。聲波的頻率愈高,愈于光學的某些特性(如反射。折射定律)相似。
超聲波探傷儀
功能
自動校準:自動測試探頭的“零點”、“K值”、“前沿”及材料的“聲速”;
自動顯示缺陷回波位置如:深度d、水平p、距離s、波幅、當量dB、孔徑ф值;
自由切換標尺; 自動錄制探傷過程并可以進行動態回放; 自動增益、回波包絡、峰值記憶功能;
探傷參數可自動測試或預置; 數字抑制,不影響增益和線性;
多個獨立探傷通道,可自由輸入并存儲任意行業的探傷標準,現場探傷無需攜帶試塊;
可自由存儲、回放波形及數據; DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作,取樣點不受限制,并可進行修正與補償;
自由輸入各行業標準;
與計算機通訊,實現計算機數據管理,并可導出Excel格式、A4紙張的探傷報告; 實時時鐘記錄:實時探傷日期、時間的跟蹤記錄,并存儲;
增益補償:對表面粗糙度、曲面、厚工件遠距離探傷等因素造成的Db衰減可進行修正;
動態存儲功能,可存儲數小時; 屏幕拓展功能,圖像清晰視野開闊
超聲波探傷儀
便攜式超聲波探傷儀的發展歷程
從1955年起,我國經歷了電子管式、晶體管式和數字式超聲波探傷儀三個發展階段,國產儀器技術不斷成熟,產品性能不斷提高。
從1979年開始,主要技術指標和性能已與國外同類產品相當,滿足國內常規超聲波探傷的技術要求。
1.1 電子管式超聲波探傷儀
自20世紀40年代中期,美英兩國研制成功脈沖反射式超聲波探傷儀后,到20世紀50年代,世界主要發達國家相繼推出超聲波探傷儀,并用于機械、造船和鋼鐵行業的鋼板和鑄件探傷。
作為一項新技術,超聲檢測技術很快得到我國的重視。1953年,模仿加拿大制造的超聲波探傷儀,開始從事超聲波探傷儀的研制。
1953年,上海材料研究所派人去長春學習和模仿了一臺超聲波探傷儀。
1954年,研究所人員協助上海材料所、熱處理所和鑄造所等單位,組成超聲波探傷工作組,分別在哈爾濱和上海等地工廠進行超聲波探傷試驗和推廣。
當時碰到的難點是,少數昂貴的進口設備無法滿足企業探傷要求,且設備均采用石英晶片的超聲波探頭,推廣起來有一定困難。
超聲波探傷儀
超聲波探傷儀盲區的測試方法
一、概念 本測試是為了測定超聲波探傷儀在規定的探傷靈敏度下,從探測面到能夠發現缺陷的較小距離。盲區越小,儀器性能越好。
二、所需設備和材料 (1)儀器:通用型超聲波探傷儀一臺 (2)探頭:2.5P20Z直探頭一個 (3)連接線:探頭連接線一根 (4)試塊:CSK-IA試塊一塊 (5)耦合劑:機油一瓶
三、盲區的測試方法
1、首先,進入儀器通道參數界面。 探測范圍:調節為50mm。 工作方式:為設置為“單”。 “抑制”:調節為0。 探頭類型:設置為直探頭。 探頭延長時間:這里前期測量為1.47us(微秒)。
2、盲區的測定 (1)這里利用CSK-IA試塊A面,Φ50mm孔距兩側邊緣5㎜和10㎜的邊距測盲區大小。 將探頭分別放置在CSK-IA試塊A面上測5mm盲區,在側面上測10mm盲區,在時基線上,看孔波與始波間是否有谷底,若谷底不在時基線上,則不能分辨孔波。 (2)一般先將探頭放置在10mm邊距,找到Φ50mm孔波,使Φ50mm孔波為滿幅度的80%,在時基線上,若能分辨孔波和始波間的谷底,則盲區小于10mm。這里測試結果能夠區分孔波和始波間的谷底。 (3)然后,再探5mm邊距,使Φ50mm孔波為滿幅度的80%,在時基線上,若不能分辨孔波和始波間的谷底,則至少5mm是盲區。
這里測試結果表明儀器不能分辨孔波和始波間的谷底,則這臺儀器的盲區至少5mm。